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过程受控评审数据时单个子组特殊原因的错误信号概率增加

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发表于 2015-4-11 10:46:47 | 显示全部楼层 |阅读模式

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SPC第二章第A节控制图过程之总结部分中,有如此说明:“最重要的一个提醒是:即使过程处于统计受控状态,当评审较多的数据时,得到关于任何单个子组特殊原因的错误信号的概率会增加。当调查所有可能成为特殊原因证据的信号时,应慎重,应意识到它们可能是系统原因引起的,可能没有潜在的局部过程问题”(见图1)
! M( `( N6 ^, u: PSPC之前的观点是:当出现超过控制线或有7点连续上升或下降或其它不随机的图形。这时就出现了特殊原因。但在此SPC第二章第A节控制图过程之总结部分有多出了一个观点,即:当出现超过控制线或有7点连续上升或下降或其它不随机的图形,可能是系统造成的普通原因,而非特殊原因造成。我个人认为,可能有误。
# h/ w7 s! M- |2 K/ P如此就出现了一个更大的问题,从控制图判定过程出现特殊原因或普通原因的依据是什么?" I% b( [; a8 K1 I
请各位发现高见!
# k1 \$ i  y7 a- w4 a% D, a谢谢!8 G# r7 @! y* w$ S; C1 m* h- r
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发表于 2015-4-12 18:42:20 | 显示全部楼层
SPC是数理统计在质量管理中的具体应用,对于控制图来说,判断有问题的七种情况,其根据也是概率,也就是说,有1/128的概率是可能是误判。
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 楼主| 发表于 2015-4-13 08:04:19 | 显示全部楼层
wxsunhao 发表于 2015-4-12 18:42: ]" x: c8 \1 ?4 d$ {; F3 {& o; M
SPC是数理统计在质量管理中的具体应用,对于控制图来说,判断有问题的七种情况,其根据也是概率,也就是说 ...

4 u' y& u  n+ v谢谢
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