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请教特定过程选择统计工具的疑问

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发表于 3-23 15:07:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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16949标准在8.1.1条款中规定:在控制计划中规定每个过程要有用于监视的统计工具(见图1)。以生产带插头电源线的公司(按要求是不需做16949的,但内部按16949管理)其中有3个过程为例:- Z, r0 G- i" [' M9 o; F) w1 h
一、剥护套(即将电源线的护套剥去,露出里面的芯线)$ O9 t3 N1 V9 u
此过程的控制计划见图2.7 h. k1 s+ j/ x
产品特性是剥护套长度,规格/公差为5±0.5,这个过程通过首检与定期巡检进行管控,管理方法为定位。那它的统计工具是什么较妥?检查表吗?(我看到许多公司都是这样应付的。)这个检查表也是首检与巡检记录啊?
  m2 m( m8 p/ ^6 ^7 O1 Z二、外壳注塑(就是注塑插头本体的外面部分)
% s7 y& [3 \7 b: x& x此过程的控制计划见图37 _2 \4 W& Q3 ~% F1 K; h( H
过程特性是温度、压力、时间,产品特性是标志、外观,这个过程通过首检与定期巡检进行管控,管理方法为首检。那它的统计工具是什么较妥?# U6 C$ G+ n& b0 j- D
三、包装
; X/ f' x/ t2 n/ l& f; S& m% q此过程的控制计划见图4., S5 f; z% z$ i2 H( Q
产品特性是(包装)数量,管理方法为数数。这个过程通过巡检进行管控,那它的统计工具是什么较妥?
0 e3 ~  w! R: f' ]& O& O请指教!) g- M2 ^$ i, ?3 ]  d- c- y% V
谢谢!' W) r% x, s, Z, f1 E- V3 N, z
1.jpg + z. x" f* s: k4 Q$ J3 W8 N
0 u; m& J$ B% i' n( h* r# U
2.jpg " H% h" y7 F  r# Y# x" m
5 H1 P/ j$ h4 Z' N9 ]
3.jpg % [4 f3 F1 z, B) q! Z: |

9 K; n( j; {  q7 o4 S3 X) Y 4.jpg
/ l. [$ B# [  L  J" b; v1 X; w6 Q. Z+ O* Q1 T
发表于 3-28 00:34:09 | 显示全部楼层
首先说明一点,不要一看到统计工具就联想到SPC中的X-R,统计方法有很多的,任何从一个总体中进行特定抽样并分析来表述总体状态的都可以称为统计,,大家都知道统计可分为计量型和计数型两种类型,,而有时计量型的也可转化成计数型,具体如何使用要结合实际情况而定,,, X- I$ t( A8 f% w0 l
针对你提出的三种情况,解答如下:7 y6 W- Q9 e) q7 {1 T
1、一、剥护套(规格/公差为5±0.5)
; V0 a. ^' B1 Y9 a9 O! L: L# U对于此公差范围大,产品质量容易保证的情况,建议采用计量型转计数型统计监控,也就是在检查表中记录测量值,注明合格情况,然后以合格情况的变化数值进行计数型的统计控制与分析,如P图;当然,如果你一定想做计量型统计控制,则也是可以的,但是从成本角度衡量,做计量型统计控制则有些不简洁了;
5 [& J" j2 |7 j, D6 a; C' l( N4 P2、外壳注塑(就是注塑插头本体的外面部分)
* k1 ~* M3 t% L$ t0 U这是一个明显的特殊过程,而产品特性主要是外观,通过目视检测容易识别和判断优劣,可以采用100%目视检测即可。此过程涉及的过程特性(工艺参数)控制是非常重要的,过程特性决定产品特性,过程特性控制好、有保证,则产品特性就稳定、就有保障。对于此情况我建议针对工艺参数进行范围内统计监控,也就是通过工艺参数监控记录表的形式来动态监控工艺参数的变化情况,只要是工艺参数变化范围满足标准范围要求即可。监控工艺参数的同时也要采用100%目视检测,以监控产品质量。0 H" N9 \. T1 T% @1 Z# a% b- x2 N
3、包装
+ b4 @; v: Q, F/ Z建议此包装过程不要采用数数的方法来监控了,这样方法是最笨和费时费力的。可以考虑设计专用包装器具,做好定量、限量包装,也就是说包装器具的设计要正好是一定整数,其结构具有犯错型。如:包装箱中设置隔断,每个隔断区域按产品外形尺寸设计,高度是产品厚度的整数倍,如固定三排码放,每排只能固定存放20个,三排也就是60个产品。只要码放三排、三排均达到一定整齐高度,就是一定数量(60个)的产品,这样就取消了人为数数的过程,只要是码放没错,高度一致,就保证是60个。
! D2 U" S) K1 N6 q9 g" K9 `1 [管理方法是要结合实际而灵活应用,,希望以上解答对你有所启示,欢迎继续交流!
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 楼主| 发表于 3-30 10:05:00 | 显示全部楼层
学以致用 发表于 2015-3-28 00:34% p8 O! B) u4 E/ o0 j/ {" a
首先说明一点,不要一看到统计工具就联想到SPC中的X-R,统计方法有很多的,任何从一个总体中进行特定抽样并 ...
% \7 [" d; h: N8 b3 K
首先说明一点,不要一看到统计工具就联想到SPC中的X-R,统计方法有很多的,任何从一个总体中进行特定抽样并分析来表述总体状态的都可以称为统计(根据这种定义,那所有检验、测量、试验等都可理解为是一种统计工具,因为所有的检验、测量、试验,一是为了解现状,二是为推测总体的。),,大家都知道统计可分为计量型和计数型两种类型,,而有时计量型的也可转化成计数型,具体如何使用要结合实际情况而定,,3 g; j5 e" b/ h8 o; ]5 Z2 b! `( Y- ]/ l9 Z" n- D5 `
针对你提出的三种情况,解答如下:
3 ~% y4 o* o. ^7 X8 `4 {2 N: O; C! J& V: L2 j0 F6 m+ e3 M1、一、剥护套(规格/公差为5±0.5)2 g8 T. x  p( Z! q8 f
3 R& h2 R7 i5 n  N# n  E' L5 Q
对于此公差范围大,产品质量容易保证的情况,建议采用计量型转计数型统计监控,也就是在检查表中记录测量值,注明合格情况,然后以合格情况的变化数值进行计数型的统计控制与分析,如P图;当然,如果你一定想做计量型统计控制,则也是可以的,但是从成本角度衡量,做计量型统计控制则有些不简洁了;8 {% g* }* |: U9 y7 {5 d2 ~' D- ~6 P5 E& _. o
完全能做到按计数型数据进行统计分析,但这析好像安全是为了满意标准要求而进行的为了统计而统计(当然,标准本身可能也有问题,不根要求每个过程都要有统计工具),统计工具是为了预测过程的趋势而进行的,但这个过程,我真得没有想到好的统计工具). j* J/ ^) J1 e6 x- ^
2、外壳注塑(就是注塑插头本体的外面部分)+ ~. X& O3 s2 m/ O/ h; T6 L' m* O6 e8 u6 w8 F1 }3 W
这是一个明显的特殊过程,而产品特性主要是外观,通过目视检测容易识别和判断优劣,可以采用100%目视检测即可。此过程涉及的过程特性(工艺参数)控制是非常重要的,过程特性决定产品特性,过程特性控制好、有保证,则产品特性就稳定、就有保障。对于此情况我建议针对工艺参数进行范围内统计监控,也就是通过工艺参数监控记录表的形式来动态监控工艺参数的变化情况,只要是工艺参数变化范围满足标准范围要求即可。监控工艺参数的同时也要采用100%目视检测,以监控产品质量。* N# G5 f) p: S
对于外观进行100%检验,是一种对产品进行控制的方法,但这不是一种统计工具吧?7 n2 S% i% ]" `6 `
对于工艺参数监控记录表仅仅是一种记录,而非分析,就不是一种统计工具。3 y$ q8 W  a, g! Z
9 Q0 e) K) _& q! s+ U' B3、包装' V2 g4 ~8 n& H$ J! r% B( N
2 r3 s/ M8 n6 j, r0 G2 r; a& v
建议此包装过程不要采用数数的方法来监控了,这样方法是最笨和费时费力的。可以考虑设计专用包装器具,做好定量、限量包装,也就是说包装器具的设计要正好是一定整数,其结构具有犯错型。如:包装箱中设置隔断,每个隔断区域按产品外形尺寸设计,高度是产品厚度的整数倍,如固定三排码放,每排只能固定存放20个,三排也就是60个产品。只要码放三排、三排均达到一定整齐高度,就是一定数量(60个)的产品,这样就取消了人为数数的过程,只要是码放没错,高度一致,就保证是60个。
# |7 f! P' F3 [. ^4 d" Y; ~无论是数数,还是使用隔断,都是一种控制方法,但在此我想知道的是,采用什么样的统计工具,既能满足标准要求,也能满足此过程的实际。7 Y6 S. V2 o& b8 ^/ f4 X1 B" V- Q% t: w' i
: D. a( P, \4 i" ?+ K8 y管理方法是要结合实际而灵活应用,,希望以上解答对你有所启示,欢迎继续交流!( `# l; J% x- f5 o
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发表于 3-30 18:14:17 | 显示全部楼层
坚韧自强 发表于 2015-3-30 10:05. F6 D; K/ A2 j+ w* X
首先说明一点,不要一看到统计工具就联想到SPC中的X-R,统计方法有很多的,任何从一个总体中进行特定抽样 ...

7 R/ C+ [( P8 V9 s( @呵呵,,
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发表于 3-30 18:18:23 | 显示全部楼层
坚韧自强 发表于 2015-3-30 10:052 o" U; S+ s+ G+ F+ D6 d; n
首先说明一点,不要一看到统计工具就联想到SPC中的X-R,统计方法有很多的,任何从一个总体中进行特定抽样 ...

& [) u5 R. ~& S  O/ B我的解答只是提供引导与借鉴,不代表正确与结果,取舍与否自己判断!, v7 g- U' d/ |% `/ u2 E
非常感谢你对我的解答进行认真分析与点评,由此可见你不单单是一个提问者,,,,
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发表于 3-30 20:10:01 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 3-31 08:15:36 | 显示全部楼层
学以致用 发表于 2015-3-30 18:18( L; E, s. p/ T3 L
我的解答只是提供引导与借鉴,不代表正确与结果,取舍与否自己判断!
. Y7 x& p" {* M* h' ?3 E* S! B非常感谢你对我的解答进行认真分析 ...
" v( z5 Y1 }% B+ ^% ]5 I
说感谢的,应该是我,之前就听rml老师说,你在16949上很有造诣。
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 楼主| 发表于 3-31 08:23:16 | 显示全部楼层
rml 发表于 2015-3-30 20:10, p( L" w8 M6 E/ }- l
自强不对哈。

0 g; m" s' n( e' t# h, S4 X谢谢
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发表于 3-31 08:41:34 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 3-31 09:55:46 | 显示全部楼层
rml 发表于 2015-3-31 08:41- T. D! A4 L; s  b/ z
不客气。
. m8 {/ h' a4 f' _! e质疑是一个好习惯。对于学习来说,善于质疑的人就是善于学习的人。
" H5 l& p% q# y9 c+ U5 |再次给你的一个忠告是:质 ...
: s' T5 x  l3 [
再次感谢
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发表于 4-1 12:09:43 | 显示全部楼层
rml 发表于 2015-3-31 08:41
+ O% v6 Q' B, U/ b不客气。
& O7 w% i1 S7 v; t$ h4 Z' X3 b质疑是一个好习惯。对于学习来说,善于质疑的人就是善于学习的人。
" f( N6 ]+ T2 W+ r2 G& u再次给你的一个忠告是:质 ...

7 @2 Y: C. p! g1 }& S' r0 }rml老师的对我们大家都是一种学习,我们每个人其实都在学习之路上,每个人的差异只不过是用功多少与悟性高低,在这里有rml老师及各位老师的时常指导是我们的幸事。1 Z9 I5 J/ }# V0 l8 b9 l! U2 S+ _
希望我们每一个人都本着谦逊的学习心态来交流、探讨,理不辨不明,彼此交换意见、发表自己看法,取长补短,相信我们大家都会彼此成长与进步!
& c$ E3 S3 M& m* D5 Z- j感恩这里的每一位老师,不管是质疑者还是询问者,因为这些都是我们个人成长路上的一个基点、一个台阶!
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