MSA手册第一章第B节测量过程统计受控状态且零偏倚的异义

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MSA手册第一章第B节《测量系统的误差对产品决策和影响》说了如此一句：案例是假设对某一个单一零件的多次读值的所有变差是由于量具的重复性和再现性引起的~~~~~那就是测量过程是统计受控状态，并且是零偏倚。（见图）
7 W+ _& u7 {8 Q7 V2 I9 C: y& K我的观点：
) m$ B! @7 O8 y1 |# A' g5 }  q既然统计受控状态，并且是零偏倚， 那么重复性和再现性应该是100%，也就是没有测量系统的误差。也就不存在本章节。所以我认为：此处不能说是零偏倚，只能说是受控。
$ r6 z9 ]. C+ W请各位发现高见！
' x6 }$ V+ Z; k0 Z谢谢！
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