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发表于 2015-4-16 14:32:14
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这四个图只是不同应用场合的表现形式而已。5 V( t9 \ d- i
以下是网上摘抄的概念: }' d8 J- C' h2 N7 r
P控制图
8 S5 @8 ~! q9 i4 j9 m用于控制对象为不合格品率或合格率等计数值质量指标的场合。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等等。P图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本的不合格品率。每个分组样本可以有相同的样本量或者不相同的样本量。此图通用性最强,在计数型控制图中用途最广。P图一般需要较大的样本容量。质量越好,那么要检测出过程失控就需要越大的分组样本。(记录每天的焊点数和焊点的不良个数,焊点数为分组样品每天是可以不同的。)
: e* a1 Z6 t, u# q7 a$ N& ?% H5 L4 i! `' ~2 p- H' Y8 a
nP控制图
4 L6 W O$ [9 B4 |! a* g$ K用于控制对象为不合格品数的场合。由于计算不合格品率需要进行除法,比较麻烦,所以样本大小相同的情况下,用此图比较方便。nP图是一种计数型控制图,它绘制的是每个分组样本中的不合格品数。每个分组样本必须有相同的样本量或者各个样本量足够相似可以看作相等。
5 ]3 l. Q' ^6 V* t, y) k5 V
, D8 @* X" w' s4 Y5 IC控制图
j1 i- I. f7 b用于控制一部机器,一个部件一定的长度,一定的面积或任一定的单位中所出现的缺陷数目。C图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本中的缺陷数(不符合性)。当所有样本具有相同的样本量时,C图便是一种很实用的选择。
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+ k5 ]+ [4 D" j% J/ D3 \& ]4 oU控制图
5 n7 X0 J0 n9 f: |& K& Z当样品的大小保持不变时可用C控制图,而当样品的大小变化时则应换算为平均每单位的缺陷数后再使用U控制图。U图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本中的单位平均缺陷数,即描述了样本数变化时每个单元的缺陷数。这里要注意不合格数和缺陷数的区别,不合格品数是针对样本本身来说的(要么合格,要么不合格);缺陷数是针对样本内部的,说明样本的符合性,而不是针对样本本身。 |
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