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发表于 2009-11-21 13:08:50
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a.过程在受控状态下也会存在变异: I" f3 T5 S+ J6 R5 H0 g
T(毫无疑问,受控的状态下也会存在变异,但是变异存在的理论概率符合预期).9 C8 g" U6 M1 G: N/ c
4 U/ |6 T0 g& K! T
b.统计技术可以帮助组织了解、发现产品或过程的变异
0 G9 q& u6 L! k: ?; m# p T(直觉判定)0 |/ }* P5 c( X! U3 I
2 s$ o% {* y; L5 c- H' Lc.可以通过产品和过程可测量的特性观察到变异2 }7 |. F1 s" P7 m- c4 c8 T
T(直觉判定)
/ E+ |- s0 a$ h5 W! O# t+ s3 B7 L& P* Y9 u( G+ j
d.组织对过程进行监视和测量时可以选用适宜的统计技术7 ?9 v }4 o+ p- d0 p/ G
T(直觉判定)
! v/ N' H' f; | l% F" Y* V) }; O# n, T, r- L h8 o+ `
仅供参考啊! |
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